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技術(shù)文章

2021
8-18

FEI掃描電鏡的哪些功能是我們不知道的？
FEI掃描電鏡專為細胞、細胞器、石棉、聚合物和軟材料等在環(huán)境溫度和低溫下的二維和三維成像而設(shè)計。以其可選的、可伸縮的冷凍箱和低劑量技術(shù)提高了電子束敏材料的成像質(zhì)量。此外，可以在配置中添加側(cè)插式可伸縮能量色散光譜(EDS)探測器，以實現(xiàn)精確化學(xué)分析。超大間隙的C-Twin極靴提供了*的應(yīng)用靈活性，再加上超高穩(wěn)定性的電子鏡筒，為高分辨率三維表征、原位動態(tài)觀察和衍射應(yīng)用提供了新的機會。FEI掃描電鏡具有高對比度、高質(zhì)量的TEM和stem成像，可同時檢測多種信號，并可采用四通道集成s...
2021
8-18

sem掃描電鏡到底具有哪些優(yōu)點？
sem掃描電鏡的分析室滿足了對元素(EDX，WDS)和晶體學(xué)(EBSD)樣品數(shù)據(jù)日益增長的需求，該分析室支持多個EDX檢測器，以提高通量并消除陰影效應(yīng)。此外，分析室支持共面EDX/EBSD和平行光束WDS，以確保所有技術(shù)的佳定位。由于掃描電鏡的現(xiàn)場能力，即使在絕緣或高溫的樣品上也可以獲得可靠的分析結(jié)果。用于光子學(xué)，地球科學(xué)，陶瓷，玻璃和故障分析應(yīng)用的其他樣品信息來自*的可伸縮RGB陰極發(fā)光檢測器。掃描電鏡將廣泛的成像和分析模式與新型先進的自動化技術(shù)相結(jié)合，可提供同類產(chǎn)品中完整...
2021
8-9

透射電鏡系統(tǒng)是由哪些部分組成的
透射電鏡是目前材料科學(xué)領(lǐng)域常用的分析儀器，廣泛地應(yīng)用于各個領(lǐng)域。透射電鏡，全稱透射電子顯微鏡，簡稱TEM，是一種把經(jīng)加速和聚集的電子束透射到非常薄的樣品上，電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產(chǎn)生立體角散射。散射角的大小與樣品的密度、厚度等相關(guān)，因此可以形成明暗不同的影像，影像在放大、聚焦后在成像器件（如熒光屏，膠片以及感光耦合組件）上顯示出來的顯微鏡。TEM系統(tǒng)由以下幾部分組成：1、電子槍：發(fā)射電子。由陰極，柵極和陽極組成。陰極管發(fā)射的電子通過柵極上的小孔形成射線束，經(jīng)陽...
2021
8-2

掃描電鏡的工作原理及特點分析
掃描電鏡（ScanningElectronMicroscope,簡寫為SEM）是一個復(fù)雜的系統(tǒng)，濃縮了電子光學(xué)技術(shù)、真空技術(shù)、精細機械結(jié)構(gòu)以及現(xiàn)代計算機控制技術(shù)。掃描電鏡主要是針對具有高低差較大、粗糙不平的厚塊試樣進行觀察，因而在設(shè)計上突出了景深效果，一般用來分析斷口以及未經(jīng)人工處理的自然表面。工作原理：掃描電鏡電子槍發(fā)射出來的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過電磁透鏡系統(tǒng)匯聚，形成一個細的電子束斑聚焦在樣品表面，末級透鏡上裝有的掃描線圈可控制電子束在樣品表面掃描，同時高能電子...
2021
7-26

漲知識！掃描電鏡的類型竟有如此之多
目前，已經(jīng)成功研制出的掃描電鏡包括：典型的掃描電鏡、掃描透射電鏡（STEM）?場發(fā)射掃描電鏡（FESEM）、冷凍掃描電鏡（Cryo-SEM），低壓掃描電鏡(LVSEM)、環(huán)境掃描電鏡(ESEM）、掃描隧道顯微鏡（STM)、掃描探針顯微鏡(SPM)，原子力顯微鏡（AFM）等，以下介紹幾種常用的掃描電鏡。一、掃描隧道顯微鏡（STM）掃描隧道顯微鏡的工作原理是利用物理學(xué)上的隧道效應(yīng)及隧道電流。隧道效應(yīng)是指金屬中部分能量低于表面勢壘的自由電子能夠穿透金屬表面勢壘,形成金屬表面上的“電...
2021
7-23

選擇鎢燈絲掃描電鏡要考慮哪些因素？
鎢燈絲掃描電鏡是一種重要的測量分析儀器，在很多的實驗室中都離不開鎢燈絲掃描電鏡，出于到位的原理以及性能，鎢燈絲掃描電鏡的使用顯得更加的出色。對于使用者而言選擇合適的鎢燈絲掃描電鏡廠家顯得很重要。那么在選購鎢燈絲掃描電鏡的過程中要留意什么因素呢?一般建議考慮以下幾點：一、特性特性是很多人關(guān)注的要素，所說的特性包含兩個要素，包含操控特性及其技術(shù)參數(shù)。首先是操控特性，在設(shè)計設(shè)備的環(huán)節(jié)中操控特性是關(guān)鍵考察的要素，考驗是設(shè)備部件相互之間的相互對接，能不能在測量的環(huán)節(jié)中更好的操控是干擾設(shè)...
2021
7-22

看看這篇文章，了解一下掃描電子顯微鏡！
掃描電子顯微鏡是介于透射電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。廣泛用于生物學(xué)、醫(yī)學(xué)、金屬材料、高分子材料、化工原料、地質(zhì)礦物、商品檢驗、產(chǎn)品生產(chǎn)質(zhì)量控制、寶石鑒定、考古和文物鑒定及公安刑偵物證分析?？梢杂^察和檢測非均相有機材料、無機材料及在上述微米、納米級樣品的表面特征。掃描電子顯微鏡是以能量為1-30kV間的電子束，以光柵狀掃描方式照射到被分析試樣的表面上，利用入射電子和試樣表面物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的二次電子和背散射電子成像...
2021
7-20

場發(fā)射掃描電鏡的成像原理和基本構(gòu)造
掃描電子顯微鏡因其分辨率高、景深大、圖像更富立體感、放大倍數(shù)可調(diào)范圍寬等優(yōu)點而被廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、無機非金屬材料及器件等的檢測。隨著我國經(jīng)濟的迅速發(fā)展，高校、科研單位、企業(yè)等大量引進了場發(fā)射掃描電鏡。掃描電鏡樣品必須是具有一定化學(xué)、物理穩(wěn)定性的干燥固體、塊狀、片狀、纖維狀及粉末。在真空中及電子束轟擊下不會揮發(fā)或變形，無磁性、放射性和腐蝕性。場發(fā)射掃描電鏡的成像原理：來自掃描發(fā)生器的掃描信號分別送給電子光學(xué)系統(tǒng)的掃描線圈和顯像管的掃描線圈，讓電子束于顯像管的陰極射束做同步掃描，...
2021
7-19

掃描電子顯微鏡樣品如何制備？有哪些要求
掃描電子顯微鏡樣品的制備，必須滿足以下要求：①保持完好的組織和細胞形態(tài)；③充分暴露要觀察的部位；③良好的導(dǎo)電性和較高的二次電子產(chǎn)額；④保持充分干燥的狀態(tài)。某些含水量低且不易變形的生物材料，可以不經(jīng)固定和干燥而在較低加速電壓下直接觀察，如動物毛發(fā)、昆蟲、植物種子、花粉等，但圖象質(zhì)量差，而且觀察和拍攝照片時須盡可能迅速。對大多數(shù)的生物材料，則應(yīng)首先采用化學(xué)或物理方法固定、脫水和干燥，然后噴鍍碳與金屬以提高材料的導(dǎo)電性和二次電子產(chǎn)額?；瘜W(xué)方法制備樣品化學(xué)方法制備樣品的程序通常是：清...
2021
7-14

掃描電子顯微鏡對待觀察樣品有哪些要求？
掃描電子顯微鏡的優(yōu)勢為可以直接觀察非常粗糙的樣品表面，參差起伏的材料原始斷口。但其劣勢為樣品必須在真空環(huán)境下觀察，因此對樣品有一些特殊要求,總的來說：干燥，無油，導(dǎo)電。1、形貌形態(tài)，必須耐高真空。例如有些含水量很大的細胞，在真空中很快被抽干水分，細胞的形態(tài)也發(fā)生了改變，無法對各類型細胞進行區(qū)分；2、樣品表面不能含有有機油脂類污染物。油污在電子束作用下容易分解成碳氫化物，對真空環(huán)境造成極大污染。樣品表面細節(jié)被碳氫化合物遮蓋；碳氫化合物降低了成像信號產(chǎn)量；碳氫化合物吸附在電子束光...

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